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光谱椭偏仪

光谱椭偏仪

光譜橢圓光度術是一種表面敏感、非破壞性和非侵入式光學計量技術,廣泛應用於半导体產業,用於確定:

  • Film thickness
  • Roughness
  • Optical properties (n.k)
  • Optical Band Gap
  • Composition
  • Crystallinity
  • Stoichiometry
  • Void fraction

25 年來,蓝鲸体育直播 提供了各種具有獨特功能的光谱椭偏仪。它們用於高精度確定氧化物、氮化物、薄導電氧化物、化合物和有機半导体以及許多其他材料的薄膜厚度和光學特性。

 
 Auto SEUVISEL Plus
Spectral range400-850nm190 nm-2200nm
Spot size8 spots automatically selectable3 spots manually selectable
Spot VisionYesNo
Angle of incidenceFixedVariable
Sample size8”Up to 12” depending on the options

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